Telefon: +86 18066376807
E-mail: ellen.zheng@mutaiele.com
MUTAI Electric Group s ponosom objavljuje uspješno učešće naFIEE 2025 – Prihvatite budućnost industrije, jedan od najuticajnijih sajmova elektrotehnike i industrije u Latinskoj Americi. Događaj se održava od9. do 12. septembra 2025., naSajam u Sao Paulu, Brazil.
Zašto je FIEE 2025 važan
TheIzložba FIEE u Braziluje vodeća platforma na kojoj se okupljaju globalne kompanije iz sektora elektrotehnike, energetike i automatizacije kako bi predstavile inovacije, razmijenile stručnost i istražile mogućnosti saradnje. Za MUTAI, pridruživanje FIEE 2025 nije samo prilika za jačanje našeg međunarodnog prisustva, već i prilika za povezivanje s distributerima, inženjerima i stručnjacima iz industrije iz cijele Latinske Amerike.
MUTAI-jevi niskonaponski električni proizvodi
At Štand A10MUTAI predstavlja kompletan asortimanniskonaponska električna rješenja, uključujući:
- itd.
Ovi proizvodi su dizajnirani da isporučesigurnost, pouzdanost i efikasnostza primjenu u industrijskim, komercijalnim i stambenim sistemima distribucije električne energije.
Naš tim u Brazilu
Kako bi se osiguralo najbolje iskustvo za posjetioce, MUTAI je poslao profesionalni tim, uključujući i našGeneralni direktor međunarodne prodaje, prodajni predstavnici i elektroinženjeriTim je dostupan na licu mjesta kako bi pružio tehničke konsultacije, demonstracije proizvoda i istražio potencijalna partnerstva.
Pogled unaprijed
Prvog dana izložbe već smo posjetili naš štand i radujemo se susretu s još partnera u narednim danima. MUTAI ostaje posvećen isporuci inovativnih niskonaponskih električnih proizvoda kako bi podržao rastuću potražnju u...Brazilsko i latinoameričko tržište.
Detalji izložbe
-
Ime:FIEE – Prigrlite budućnost industrije
-
Datum:9. – 12. septembar 2025.
-
Broj štanda:A10
-
Mjesto održavanja:Sajam u Sao Paulu, Brazil
Za više informacija o našim proizvodima ili za zakazivanje sastanka tokom FIEE 2025, molimo Vas da nas kontaktirate na:ellen.zheng@mutaiele.com
Vrijeme objave: 10. septembar 2025.
